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簡要描述：HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，1MHz 測量時間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2025-05-15訪 問 量：23產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 測量頻率 | 1kHz, 1MHz |
|---|---|---|---|
| 輸出電阻 | 1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) | 功能 | BIN分類測量, 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能 |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA | 體積 | 260W × 100H × 298Dmm |
| 重量 | 4.8kg |
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀
對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，1MHz 測量時間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀概要
● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
基本參數(shù)
| 測量參數(shù) | C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ) |
|---|---|
| 測量范圍 | C:0.001fF～15.0000μF D:0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9 |
| 基本精度 | (代表值)C:±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
| 測量頻率 | 1kHz, 1MHz |
| 測量信號電平 | 500mV, 1V rms |
| 輸出電阻 | 1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
| 顯示 | LED(6位顯示,滿量程由點(diǎn)數(shù)有效距離來決定) |
| 測量時間 | 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
| 功能 | BIN分類測量, 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監(jiān)視功能, 輸出電壓值監(jiān)視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
| 附件 | 電源線× 1, 電源備用保險絲× 1，使用說明書× 1 |
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